Наверх

Наверх
Загрузка
ШифрНаименованиеЕд. Изм.
м32-01-101-1Установка визуального контроля качества проявления и качества поверхности полупроводниковых пластиншт.
Состав работ:
ПЗМатЕммЗпМашОЗПТрСтрТрМашНР%СП%
000000000